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  • MAPS-SHG系列偏振二次諧波掃描成像系統
    偏振二次諧波掃描成像系統

    偏振二次諧波掃描成像系統，采用共聚焦的激發和收集方式，可實現帶偏振的二次諧波成像。該系統可以與用戶的飛秒激光器耦合，實現全電動化偏振分辨的微區二次諧波測試

    產品型號：

    MAPS-SHG系列

    廠商性質：

    生產廠家

    更新時間：

    2026-05-19

    瀏覽次數：

    446

  • MAPS-TR反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統
    反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統

    反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統采用“所見即所得”的測量方式，即反射與透射測量方式均能在直接觀測樣品成像時看到測量光斑，成像與測量光路通過電機切換。標準系統可滿足紫外/可見/近紅外波段的測試需求，對于特殊波段可進行優化設計及光路定制

    產品型號：

    MAPS-TR

    廠商性質：

    生產廠家

    更新時間：

    2026-05-18

    瀏覽次數：

    451

  • MAPS-LTMS系列低溫/磁場微區光譜測試系統
    低溫/磁場微區光譜測試系統

    低溫/磁場微區光譜測試系統解決方案。它支持最高達12 T磁場，低至2.8 K環境下的微區光學測試。包括熒光，熒光壽命，反射光譜，拉曼光譜，偏振分辨二次諧波，光電流，磁光克爾與反射磁圓二色。主要應用于磁性二維材料或磁性薄膜材料與器件的磁性表征，居里溫度表征，表面拓撲磁結構表征，磁疇掃描成像

    產品型號：

    MAPS-LTMS系列

    廠商性質：

    生產廠家

    更新時間：

    2026-05-18

    瀏覽次數：

    360

  • 微區-磁光克爾效應測試系統
    微區-磁光克爾效應測試系統

    北京卓立漢光儀器有限公司全新推出微區-磁光克爾效應測試系統，可根據用戶需求提供定制化解決方案，產品范圍涵蓋微區磁光克爾系統和磁圓二色測試系統，并可根據用戶需求升級拓展拉曼，熒光，熒光壽命及二次諧波等模塊，可用于檢測樣品表面磁性和磁疇結構，適用于磁性材料、二維鐵磁材料和自旋電子器件等應用領域。

    產品型號：

    廠商性質：

    生產廠家

    更新時間：

    2024-11-26

    瀏覽次數：

    2716

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